SF6在芯片刻蚀中选择性不足的影响因素涵盖多维度：工艺参数（射频功率、腔室压力、气体配比）偏差会打破刻蚀平衡；等离子体活性粒子分布失衡会同时侵蚀目标与掩模材料；衬底与掩模的本征属性（晶向、交联度等）决...
