在芯片刻蚀中，SF6的蚀刻选择性可通过多维度优化实现：精准调控等离子体参数，优化SF6与O2、Ar等气体的组分及配比，调控衬底温度并进行表面预处理，应用原子层刻蚀等先进技术，以及优化掩模材料与侧壁钝化...

在半导体腔室清洗中，使用SF6时需通过精准控制等离子体参数（功率300-800W、压力100-500mTorr）、优化气体配比（SF6与Ar、O2按1:4:1混合）、预处理吹扫与临时保护膜、实时OES...