半导体干法刻蚀中，SF6基Bosch工艺的刻蚀-钝化循环易产生侧壁扇贝纹，影响器件性能。可通过优化刻蚀/钝化时序、调整SF6与O2/H2/N2等辅助气体比例、采用脉冲RF或磁场增强等离子体、改进双频R...

SF6凭借稳定的分子结构与等离子体环境下的高活性分解特性，成为半导体干法刻蚀的核心气体。其分解产生的氟自由基可实现高精度各向异性刻蚀，满足先进制程纳米级结构需求，同时具备优异的刻蚀选择性与低损伤特性，...