在半导体芯片制造的等离子体刻蚀工艺中,SF6作为关键刻蚀气体,其流量控制直接影响等离子体参数,进而决定刻蚀均匀性。流量过高会加剧负载效应与剖面各向异性损失,过低则导致刻蚀速率不足与面内均匀性恶化;先进...