SF6在芯片刻蚀中速率过快会引发刻蚀轮廓失控、关键尺寸偏差、材料选择比恶化、表面缺陷增加、工艺稳定性下降等问题，导致芯片性能退化、良率损失，同时大幅增加设备维护成本，严重影响先进制程的量产可靠性。...

在半导体芯片制造中，SF6气体主要用于等离子体刻蚀与腔室清洁制程，其压力波动会引发刻蚀速率不均、关键尺寸偏差、刻蚀轮廓异常、选择比失衡、残留缺陷增加等问题，导致良率大幅下降；还会造成腔室清洁不彻底或损...